Анализатор поверхности металлов искровой оптико-эмиссионный спектрометр МЕТАР-2010 (UNIX Instruments

Анализатор поверхности металла МЕТАР-2010 разработан для быстрого анализа металлов. Это первый в мире анализатор количественного содержания компонентов на большой площади. Его функции включают в себя элементный анализ сегрегации, количественный анализ и анализ распределения включений на поверхности металла, анализ пористости и анализ состава металла. По сравнению с традиционными технологиями, анализатор металлов МЕТАР-2010 имеет отличительные преимущества, такие как легкость приготовления образца, точный и быстрый анализ.

Анализатор поверхности металлов МЕТАР-2010 применяется для анализа химического состава и структуры металлических образцов в исходном состоянии. Прибор может непосредственно усиливать спектральные сигналы в обширной области в металлическом материале, генерируемые без предварительного зажигания, непрерывным сканированием искрового разряда, и проводить быстрый сбор данных с помощью искрового спектра. Данные об исходном состоянии химического состава и концентраций в различных положениях на поверхности образца и информация о текстуре поверхности может быть получена с целью количественного анализа состава и состояния образца.

Технология непрерывного возбуждения и синхронного сканирования и позиционирования Традиционные платформы возбуждения используются только для анализа фиксированной позиции на поверхности образца. Для того чтобы проанализировать составные распределения, дефекты и включения, необходимо перемещать образец между электродами. Технология одноместного искрового разряда для высокоскоростного сбора данных Технология одноместного искрового разряда высокоскоростного сбора данных, разработанная нашими специалистами используется для сбора синхронных  данных об интенсивности и позиции одного искрового разряда в режиме реального времени и в многоканальном режиме для количественного анализа и анализа распределения элементов и включений.

Система непрерывного возбуждения Высоко-стабильный источник искрового разряда

Частота   500 Гц

Индуктивность   120 Гн

Электрическая емкость   5 Ф

Напряжение   400 В

Оптическая система

Спектральный диапазон   120 - 800 нм

Разрешение   лучше чем 0,01 нм

Вакуумная оптическая система   Система Пашена-Рунге, фокусное расстояние 750 мм

Система сканирования

Консольного типа связана с осями XY

Привод   Цифровой, AC, серво привод

Определение позиции    Инкрементный датчик положения

Воспроизводимость позиции   0,1 мм

Передача   Шарико-винтовая